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产品介绍
参数性能
产品优势
缺陷图例
晶硅电池PECVD镀膜检测模块
主要用于检测晶硅电池片镀膜工艺后的色差和表面缺陷
产品型号:LP
solar
- SP200 (面阵)、LP
solar
- SP300 (线扫)
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验证
参数性能
产能
≥4500片/小时
最高检测精度
90μm
设备有效时间
≥99%
重复检测率
>99.9%
破片率
<0.05%(机械臂吸片)
重复性
99.85%
外形尺寸
单检测工位:430mm*350mm*600mm
重量
单检测工位≤20KG
产品优势
配备深度学习功能,将缺陷的标准交给生产商
配备标准WEB、SQL接入口
不停顿成像模式、不停顿剔除NG片
灵活、可定义的分选标准
定制化工程方案
缺陷图例
白点
脏污
片内色差
整体色差
边缘绕度
刻蚀印
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